過程(chéng)校驗儀(yí)中(zhōng)你不知(zhī)道的一些小細節

　　過(guò)程校驗儀是一種多(duō)功能，高精(jīng)度(dù)的(dí)便攜式(shì)儀(yí)器，可用於(yú)校(xiào)準(zhǔn)，測試(shì)工業(yè)過(guò)程裝(zhuāng)置及(jí)各種(zhǒng)電氣(qì)設(shè)備，支(zhī)持電流，電(diàn)壓，電阻(zǔ)，頻(pín)率，熱電(diàn)偶，熱電阻等多(duō)種信號類型，較高(gāo)精(jīng)度(dù)可達0.01%，帶RS232通信，過(guò)程校(xiào)驗儀(yí)是工業現(xiàn)場，實驗室以(yǐ)及(jí)各類(lèi)儀(yí)表製(zhì)造商(shāng)*的(dí)計量(liáng)工具。

　　一，過(guò)程校驗儀(yí)的主(zhǔ)要特點(diǎn)：

　　1.應用方式靈活，操作簡便(biàn)的特(tè)點，它可以(yǐ)通(tōng)過按鍵(jiàn)操作(zuò)直(zhí)接(jiē)進入功能區。在(zài)工業現(xiàn)場(cháng)，您可(kě)以將(jiāng)過(guò)程校(xiào)驗儀(yí)掛在(zài)身邊對(duì)各(gè)種電氣(qì)設(shè)備和傳(chuán)感器(qì)進(jìn)行(háng)檢(jiǎn)測(cè)，給您(nín)的現場維(wéi)護工作帶(dài)來便利(lì)和(hé)方(fāng)便。

　　2.信號(hào)輸(shū)出和測(cè)量可同(tóng)步進行(háng)

　　在常規(guī)檢測中，經(jīng)常(cháng)需要多種測(cè)量設(shè)備組(zǔ)合(hé)才能完成對電氣設備的檢(jiǎn)測(cè)，如信(xìn)號(hào)源(yuán)，電(diàn)阻箱和(hé)萬用(yòng)表(biǎo)等。現在，隻要用(yòng)一台YR-100過程校驗(yàn)儀，既能對(duì)熱(rè)電偶，熱(rè)電(diàn)阻以及電(diàn)流(liú)，電(diàn)壓(yā)等儀表執(zhí)行常規檢(jiǎn)查和維(wéi)護(hù)，又(yòu)能對(duì)變送器，溫度調節(jié)器和信(xìn)號隔離器(qì)進(jìn)行(háng)維(wéi)護和(hé)診斷(duàn)，它為提(tí)高(gāo)您的工作效(xiào)率提供了較(jiào)好的手(shǒu)段。

　　3.高(gāo)精(jīng)度，多(duō)功(gōng)能(néng)的源和(hé)測(cè)量

　　對於(yú)源(yuán)單元(yuán)和測(cè)量(liáng)單(dān)元的(dí)直流電壓(yā)，直流(liú)電(diàn)流(liú)具有高精(jīng)度和(hé)高穩(wěn)定(dìng)性。可(kě)對直流電(diàn)壓(yā)，直(zhí)流電(diàn)流(liú)，電阻，熱(rè)電阻(zǔ)，熱電偶(ǒu)和(hé)頻(pín)率等(děng)進行測量。

　　4.環(huán)路(lù)供電

　　具備(bèi)24V配電能(néng)力，在向(xiàng)環路供電(較(jiào)大30mADC)時(shí)，能夠(gòu)測量來自(zì)二(èr)綫製變(biàn)送(sòng)器(qì)，三(sān)綫製變(biàn)送器的電流信(xìn)號。

　　5.查表(biǎo)功能(néng)

　　熱工手(shǒu)冊實現熱(rè)偶的毫伏(fú)值(zhí)與(yǔ)溫度值(zhí)，熱電阻的(dí)電(diàn)阻值與溫度值(zhí)的快捷互(hù)查。

　　6.智能插孔(kǒng)

　　在應用校驗(yàn)儀進(jìn)行測(cè)量和(hé)輸(shū)出(chū)信號(hào)時，相(xiāng)對應(yīng)的表筆(bǐ)插孔(kǒng)導(dǎo)光柱會發出閃(shǎn)光，提(tí)示用(yòng)戶將測試表筆插(chā)入(rù)該(gāi)插(chā)孔(kǒng)，智(zhì)能化(huà)的提(tí)示(shì)給您(nín)的(dí)操作帶(dài)來方(fāng)便。

　　二，過程校驗儀的應用(yòng)領域：

　　工(gōng)業(yè)計(jì)量與校(xiào)準；溫度和壓力儀表(biǎo)維(wéi)護和檢修；自動化維護和(hé)檢(jiǎn)修；工程(chéng)建設(shè)調(tiáo)試；控(kòng)製係統信(xìn)號源(yuán)檢(jiǎn)測和診(zhěn)斷；現場儀表維(wéi)修部(bù)分配(pèi)置；電(diàn)力行業熱工實驗(yàn)室成套(tào)；DCS係統和(hé)PLC係統I/O測(cè)試。